会议时间：2023/1/12（周四) 16:00~17:00 p.m. 本次线上会议主要内容：扫描电镜（JCM 7000）ng体育 介绍、应用案例分享 会议主要面向行业客户：材料、金相行业、太阳能领域、医药、纤维领域、半导体行业 研讨会计划用时一个小时，将通过腾讯会议线上召开。
会议时间：2022/12/22（周四) 16:00~17:00 p.m. 会议主要内容：Nikon VMZ-S新功能演示 会议主要面向行业客户：连接器、半导体封装、引线框架、电路板、冲压件、钟表零件 研讨会计划用时一个小时，将通过腾讯会议线上召开。
Nikon OST3000 / 12" Wafer Inspection
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原价：￥元
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Nikon OST3000 / 12" Wafer Inspection
Simpie and speedy manual visual inspection of 300mm wafers. Contributes to dramatic increases in yields as an inline inspection system and analysis tool for backend process.
Overview
‧budget tool
‧Available for 8" and 12" wafer inspection
‧High resolution wafer surface and backside macro capture function
‧FOUP/FOSB handle
‧Large area and high brightness macro illuminator
‧available for Z axis measurement( bump height,particle height…..)
‧safety design for wafer transfer and loadport system (SEMI S2)
‧5 million pixes digital CCD camera with measurement software
